スマートカードIC、アナログ・フラッシュメモリ内蔵マイコン試験に最適なテスト・コストを実現

2012年11月8日

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区　社長：松野晴夫）は、テスト・システム「T2000」の新ソリューションとして、「Integrated Massive Parallel Test Solution」(IMS)を発表しました。当ソリューションは、2012年12月5日～7日に幕張メッセにて開催される「セミコン・ジャパン 2012」に出展する予定です。

IMSは、最大256個のデバイスを同時に測定し、量産時のスループット向上とテストタイム短縮に貢献することで、スマートカードIC、アナログやフラッシュメモリ内蔵型マイコンに最適なテスト・コストを実現しました。さらに、新たに採用したユニバーサル・ピン・アーキテクチャにより、208チャンネルのリソースを最適かつ柔軟に使用することができます。

マイコンやスマートカード向けICの分野は、製造コストが非常に重要視されています。これらのデバイスのテストにおいて、既存のテスタが多数のモジュールと複雑なパフォーマンス・ボードを必要とするのに対し、IMSのユニバーサル・ピン・アーキテクチャはモジュールのボード枚数を大幅に削減し、パフォーマンス・ボードの設計も簡易化することができます。これにより、IMSは、テスト・コストの削減に加え、量産の成功のカギを握る保守費用の抑制にも貢献し、マーケットシェアのさらなる獲得をめざします。

企業HP:
http://www.advantest.co.jp/

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