サービス

半導体・電子部品の各種解析サービスです。
当社から購入された部品はもちろん、それ以外でも、品質や不具合調査を承ります。メニューの中から検査項目を選択頂き、検査結果の調査報告書をご提出します。

解析フロー

一般的な解析フローは以下の通りとなります。

検査メニューと価格表

価格はあくまで参考として記載しておりますので、実際にご利用頂く際にはお見積対応とさせて頂きます。
下記記載メニュー以外の検査も承っておりますので別途お問合せ下さい。
下記メニューよりお選びいただけます。

• 断面・平面研磨の観察は顕微鏡のみとなります。SEM観察が必要な場合は別途料金が発生します。
• EDX分析とFT-IR分析はそれぞれ別料金となります。FT-IR分析は外部機関を使用する為、都度お見積りとなります。
• V-I特性観察(2nd Bond間)については項目より除外します。必要な場合は別途ご相談となります。

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見積依頼方法説明

下記「調査見積依頼フォーマット」をダウンロード頂き、必要事項記載の上、Eメール(kaiseki@chip1stop.com)へ添付でお送りいただくか、FAX(045-470-8950)にてご依頼下さい。

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各種検査内容のご紹介

検査機器について
検査機器の一部をご紹介します。
複数の外部検査機関と協業し、お客様に最適の検査を実施いたします。
詳しくはこちらからお問合せください。

		メニュー名	製品画像	メーカ	機器名	型式	備考
非破壊検査	個別検査	外観観察		キーエンス	デジタル マイクロスコープ	VHX-700F
	個別検査	X-Ray検査		SHIMADZU	マイクロフォーカス X線装置	SMX-160E
	個別検査	電気特性確認		TEKTRONIX	Curve Tracer	370B
				AGILENT	Parameter Analyzer	4155C
	個別検査	SAT(剥離観察)		HITACHI	超音波探傷装置	mi-scope hyper
破壊検査	個別検査	断面・平面研磨 ⇒顕微鏡・SEM観察		ビューラー	卓上研磨機	エコメット250/ オートメット250	※断面・平面研磨
				HITACHI	電子走査顕微鏡	S-4000	※SEM観察
				NIKON	光学顕微鏡	L200	※顕微鏡
	個別検査	内部開封 ⇒顕微鏡・SEM観察		AZONE	酸フード	ADP-1800SC	※内部開封
				HITACHI	電子走査顕微鏡	S-4000	※SEM観察
				NIKON	光学顕微鏡	L200	※顕微鏡
	個別検査	EDX・FT-IR分析		EDAX	EDX	Standard	※S-4000付随
				HORIBA	FT-IR	FT-520
	個別検査	V-I特性観察 (2nd Bond間)		TEKTRONIX	Curve Tracer	370B
				AGILENT	Parameter Analyzer	4155C
	個別検査	OBIRCH・EMS解析		浜松ホトニクス	エミッション顕微鏡	PHEMOS-1000	※OBIRCH機能付き
	個別検査	Chip剥離解析		ビューラー	小型自動研磨機	MINIMET1000	※研磨手法に使用
				AZONE	酸フード	ADP-1800SC	※Wet(薬液)手法に使用

検査内容のご紹介

この他にも様々な検査をご用意しております。詳しくはお問合せください。

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